產品詳情
簡單介紹：
光耦參數分析儀用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.
詳情介紹：
光耦參數測試儀型號：JFY3010A
詳細介紹
※概述:
JFY3010A光耦參數測試儀，是一種**門用于各種電子元件參數測試的新型多功能測試裝置。該機采用大規模MCU設計,中文界面操作,大容量內存,可存2000種元件參數設置數據.儀器外型美觀、性能穩定、測量準確、操作簡單、使用方便,適用電子產品生產廠家或電子元件供應商來料檢測。
※ 測量元件類型:三管類型4腳 6腳光耦
※ 測量參數:
參數指標表:
|
參數項 |
測試參數 |
測試條件設置 |
|
輸入正向壓降(VF) |
0-2.000V |
0-400MA |
|
耐壓(BVCEO) |
0-1200V |
0-2.000MA |
|
傳輸比(CTR) |
0-3000 |
VCE:0-20V IC:0-2.000A |
|
飽和壓降(Vsat) |
0-2.000V |
IF:0-400MA IC:0-2.00A |
| 輸出漏電流(Iceo) | 0-1mA | VCE=20V |
| 輸入反向漏電流(IR) | 0-1mA | VR=4V |
聯系人：王汝玄
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
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