產品詳情
簡單介紹：
雜質濃度測試儀
產品型號： KDB-1A
原理：根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。
適用范圍：
詳情介紹：
雜質濃度測試儀
產品型號： KDB-1A
原理：根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。
適用范圍：它適合于測量橫截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠。
用途：根據測量沿錠長雜質濃度的分布狀況決定產品的合格部分，通過雜質濃度的直接測量，決定晶體生長過程中的摻雜數量。
樣品可在常溫或低溫下測量。
顯示方式：儀器連接PC機，通過專用測試軟件計算，用對數坐標的方式來顯示雜質濃度（含次方數）沿錠長的分布曲線，可對曲線圖進行打印和保存。
測量范圍： 可測晶體電阻率：0.005-3000Ω·cm。
直流數字電壓表測量范圍：0-199.99mV，靈敏度：10μA。
聯系人：王汝玄
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
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