產品詳情
簡單介紹：
KDB-2B為四探針法測量金屬薄膜
的方塊電阻，該方法操作簡單，測量**。
儀器特點如下：
1、配有雙數字表：
詳情介紹：
KDB-2B為四探針法測量金屬薄膜
的方塊電阻，該方法操作簡單，測量**。
儀器特點如下：1、配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表（以萬分之幾的精度）適時監測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更**。
數字電壓表量程：0—19.999mV 靈敏度：1μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度) ；
2、方塊電阻測量范圍：1×10-5～1.9Ω/□；
3、電流量程分兩檔：100mA和1000mA。
聯系人：王汝玄
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789