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自動橢圓偏振測厚儀/橢圓偏振測厚儀/測厚儀
日期：2025-09-11 09:22
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摘要：
自動橢圓偏振測厚儀/橢圓偏振測厚儀/測厚儀 型號：XB-TPY-2
產品特點：
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率，具有精度高、靈敏度高以及自動控制等特點。光源采用氦氖激光器，功率穩定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接，配套軟件功能齊全，具有多樣數據采集及處理方式，適用于不同用戶的需要。
規格與主要技術指標：
測量范圍：薄膜厚度范圍1nm-4000nm 折射率范圍：1-10
測量小示值：≤1nm 入射角：20°- 90°精度≤0.05°
度盤刻度：每格1度 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器步進角：0.014°/步 偏振器方位角范圍：0°- 180°
測量膜厚和折射率重復性精度分別為：0.5nm和0.005
儀器測量精度：±0.5nm（薄膜厚度在10-100nm時）
光學中心高度：80mm
成套性：主機、電控系統、USB接口、配套軟件（需配計算機）
主機重量：26kg 外形尺寸：680*390*310mm
產品特點：
儀器采用消光法自動測量薄膜厚度和折射率，具有精度高、靈敏度高以及自動控制等特點。光源采用氦氖激光器，功率穩定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接，配套軟件功能齊全，具有多樣數據采集及處理方式，適用于不同用戶的需要。
規格與主要技術指標：
測量范圍：薄膜厚度范圍1nm-4000nm 折射率范圍：1-10
測量小示值：≤1nm 入射角：20°- 90°精度≤0.05°
度盤刻度：每格1度 允許樣品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm
偏振器步進角：0.014°/步 偏振器方位角范圍：0°- 180°
測量膜厚和折射率重復性精度分別為：0.5nm和0.005
儀器測量精度：±0.5nm（薄膜厚度在10-100nm時）
光學中心高度：80mm
成套性：主機、電控系統、USB接口、配套軟件（需配計算機）
主機重量：26kg 外形尺寸：680*390*310mm
聯系人：王汝玄
聯系電話：18910554055 18910534055 18611444986
傳真號碼：010-68467699
移動電話：18611444986
郵政編號：100142
公司地址：北京市通州區興貿三街18號院
Email：tdcy17@126.com
公司網址：http://www.5117sell.com
QQ：1579845789
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